全面的功能验证:完整的工业流程

作者：[美]BruceWile，[美]John

页数：487

出版社：机械工业出版社

出版日期：2010

ISBN：9787111296416

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内容简介

本书分为5个部分。第1部分的内容是功能验证概述，包括概念背景、验证计划、验证策略和一些基本练习。第1部分还介绍了验证周期的概念和层次化验证的概念，以及在实践中怎样将巨型设计分解为可验证的单元。第2部分和第3部分关注两个最主要的功能验证方法：基于模拟的验证方法和形式验证方法。第4部分把注意力集中在验证周期的后期阶段，包括回归测试和“逃逸”错误分析，以及一些高级的验证技术。第5部分，是一些验证实例研究的集合，进一步强调了验证周期和验证过程中的相关概念。
　　本书既可作为科研院所、高等工科院校计算机、电子、微电子等专业的教材或教学参考书，也可作为集成电路验证领域的工程师的技术指南或工具书。

作者简介

威立（Bruce Wile）是IBM杰出工程师。他是IBM系统与技术组ASIC首席工程师，在这个岗位上，他领导开发了当前和下一代的服务器芯片组。自从1985年从宾夕法尼亚州立大学毕业并开始职业生涯，Wile先生在功能验证领域工作了18年。他曾先后担任许多芯片和系统的验证工程师，包括开始的IBMS／390ES／9000系列缓存和存储控制器单元，进而是处理器、I／O设备以及整个系统。在验证生涯中，他还担任着验证组领导和管理岗位。2000年，Wile先生被任命为IBM服务器芯片验证组长，负责整个IBM服务器全线产品的验证技术开发和执。

本书特色

《全面的功能验证:完整的工业流程》：随着芯片设计复杂度的不断提高，功能验证日渐成为开发过程中的决定性任务。《全面的功能验证:完整的工业流程》在描述功能验证基础方面做了极为出色的工作。读者可以从《全面的功能验证:完整的工业流程》中了解验证周期的细节，学习验证工程师所采用的各种方法。以确保完成一个无错的设计版本。《全面的功能验证:完整的工业流程》提供了至今为止最广泛深入的功能验证策略。作者依赖深厚的经验，对验证工程师可能面对的各种问题和挑战提供了一个工业级的透视图。《全面的功能验证:完整的工业流程》对于新手和有经验的验证工程师都很有价值。《全面的功能验证:完整的工业流程》是对工业化验证流程的全面浏览。作者特别关注了覆盖率方面的最新进展，并将它们串成组织严谨的章节链来介绍，此外，《全面的功能验证:完整的工业流程》还伴有丰富的说明举例和研究实例，使之成为一本大学功能验证课程的理想教科书。在各个项目组都力求高效地保证系统工作正确的今天，验证已经成为整个数字电路设计流程的主宰。尽管验证极其重要，过去却没有书籍能充分涵盖需要的各种素材来确保复杂电子系统的品质。Wile、Goss和Roesner深入介绍了功能验证技术——包括理论观点和实践技术。这本优秀的教科书承诺让在校学生和实践中的工程师都能从中获益，使他们在应对现代验证挑战时变得更有效率。《全面的功能验证:完整的工业流程》特色随着电子设计日趋复杂，发现错误变得越来越困难和耗时，对能够快速识别设计缺陷的熟练的验证工程师的需求也前所未有的迫切《全面的功能验证:完整的工业流程》为深入理解验证的方法、工具和技术提供了坚实的基础，而正是采用这些方法、工具和技术，业界专家可以成功地调试甚至最复杂的设计。提供对完整的验证周期的全景观察。强调功能验证基础知识与工业界经验的有机组合。包含真实世界的案例研究，提供来自大EDA厂商Mentor Graphics、Synopsys和VerlsityDeslgn的可下载的关键用例的软件实现。

目录

节选

《全面的功能验证:完整的工业流程》分为5个部分。第1部分的内容是功能验证概述，包括概念背景、验证计划、验证策略和一些基本练习。第1部分还介绍了验证周期的概念和层次化验证的概念，以及在实践中怎样将巨型设计分解为可验证的单元。第2部分和第3部分关注两个最主要的功能验证方法：基于模拟的验证方法和形式验证方法。第4部分把注意力集中在验证周期的后期阶段，包括回归测试和“逃逸”错误分析，以及一些高级的验证技术。第5部分，是一些验证实例研究的集合，进一步强调了验证周期和验证过程中的相关概念。《全面的功能验证:完整的工业流程》既可作为科研院所、高等工科院校计算机、电子、微电子等专业的教材或教学参考书，也可作为集成电路验证领域的工程师的技术指南或工具书。