数字电子技术实验及Multisim仿真应用

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数字电子技术实验及Multisim仿真应用

作者:杨玉强,刘允峰,马敬敏主编

页数:213页

出版社:科学出版社

出版日期:2020

ISBN:9787030644039

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内容简介

本书根据数字电子技术课程教学大纲及教学基本要求编写而成。全书系统地介绍了数字电子技术实验的基本方法,实验内容按照由浅入深、循序渐进、逐步提高的原则安排,按照学生能力形成的不同阶段,分为基础实验、设计及综合实验、Multisim仿真应用三部分,将硬件实验方式向多元化、现代化实验方式转移。

目录

绪论 1
第一部分 基础实验
实验1 集成门电路逻辑功能测试 7
实验2 TTL门电路参数测试 14
实验3 TS门和OC门及应用 19
实验4 SSI组合逻辑电路 25
实验5 译码器和数据选择器及其扩展应用 31
实验6 MSI组合逻辑电路 40
实验7 触发器逻辑功能测试 48
实验8 SSI时序逻辑电路 56
实验9 集成计数器及寄存器 65
实验10 555定时器及应用电路 74
实验11 半导体随机存取存储器 83
实验12 D/A与A/D转换 91
第二部分 设计及综合实验
实验1 顺序脉冲发生器电路设计 103
实验2 移位寄存器型彩灯控制电路设计 107
实验3 汽车尾灯控制电路设计 112
实验4 多路竞赛抢答器电路设计 117
实验5 交通灯控制电路设计 125
实验6 数字电子钟电路设计 131
第三部分 Multisim仿真应用
第1章 Multisim 10简介及其基本操作 139
1.1 Multisim 10概述 139
1.2 Multisim 10的菜单命令 140
1.3 Multisim 10的工具栏 147
1.4 Multisim 10的元器件库 148
1.5 Multisim 10的仪器仪表库 155
1.6 构建仿真电路的基本操作 164
第2章 Multisim电路仿真 169
2.1 集成门电路逻辑功能仿真 169
2.2 组合逻辑电路逻辑功能仿真 174
2.3 触发器电路逻辑功能仿真 182
2.4 时序逻辑电路逻辑功能仿真 190
2.5 脉冲产生与整形电路仿真 198
2.6 半导体RAM仿真 204
参考文献 208
附录 常用集成电路引脚图 209
PDF更新中
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